二氧化硅是一種重要的無機材料，在紅外光譜分析中具有廣泛的應用。紅外光譜是通過測量物質在紅外輻射區域的吸收和散射來研究其分子結構和化學特性的一種方法。
二氧化硅的紅外光譜測定主要基于其分子振動模式引起的吸收峰。在紅外光譜圖上，常見的吸收峰包括伸縮振動、彎曲振動和對稱拉伸振動等。
二氧化硅的主要吸收峰位于1000-1200cm^-1的區域，這些峰代表了硅氧鍵的伸縮振動。此外，還存在于800-1100cm^-1范圍內的Si-O-Si彎曲振動峰。這些振動模式提供了關于二氧化硅的分子結構和鍵合情況的信息。
FTIR920的軟件
視窗軟件隨整套系統一并提供。此軟件能滿足全部標準分析的要求，包括光譜數據處理、儀器控制、多圖同時預覽。在干涉圖或光譜的分析模型上，也能提供濾波、基線校正、交互編輯和數據操作。同時也有光譜扣除、混合扣除、濾波衍生、譜圖預覽等功能。數據輸入和輸出可以是ASCII 或JCAMP格式。其他包括Thermo/Galactic GRAMS在內的商業程序也可以使用，例如圖庫搜索。Interspec軟件程序是在32位保護模式下編寫的。我們為不同功能的應用設計了專門的軟件，這些軟件操作簡便而且免費提供。通過添加其他商業程序，比如：搜索、成份識別、Kramers Kronig變換、化學統計等，對程序的功能進行擴展,從而滿足個別需求。
二氧化硅的紅外光譜測定的方法通常涉及將樣品制備成適當的形式，如固體薄片、顆粒或溶液，并利用紅外光譜儀進行測量。儀器通過向樣品施加紅外輻射，測量經過樣品后未被吸收的光的強度變化。
在進行紅外光譜測定時，需要注意一些因素。首先，樣品應該足夠純凈，以避免其他雜質對光譜結果的影響。其次，在選擇紅外輻射源和檢測器時，應根據所需的波長范圍和靈敏度進行合理選擇。此外，還需要校準儀器，并使用適當的參考物質進行光譜數據的分析和解釋。
服務熱線：022-88289916
產品型號：FTIR920
更新時間：2025-07-10
廠商性質：生產廠家
訪 問 量 ：3674
當前位置：
上一個：
返回列表
